Предмет:
ФизикаАвтор:
mackenzientpgИспользуется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Ввиду способности не только сканировать, но и манипулировать атомами, назван силовым.
Автор:
yasminnewtonДобавить свой ответ
Предмет:
ЛитератураАвтор:
macyОтветов:
Смотреть
Предмет:
МатематикаАвтор:
leegf9gОтветов:
Смотреть
Предмет:
БиологияАвтор:
bruiseroaidОтветов:
Смотреть