Які структури виявляють за допомогою сканувальної мікроскопа? Розкрийте суть методу мічених атомів

Скануючий електронний мікроскоп (СЕМ) дозволяє виявляти різні структури на нанометровому рівні. Завдяки високороздільній здатності СЕМ можна спостерігати поверхні матеріалів і досліджувати їхню морфологію, структуру та компоненти.

Щодо методу мічених атомів, це техніка дослідження структури матеріалів, яка ґрунтується на спостереженні за розташуванням і атомними аранжуваннями атомів на поверхні. Він використовує різницю в енергії вторинних електронів, які вибиваються з поверхні матеріалу під дією пучка електронів. Метод дозволяє отримувати високороздільні зображення атомів на поверхні твердих тіл, що дозволяє вивчати їхню структуру на атомному рівні.